ASD地物光譜儀可以實(shí)時(shí)測(cè)量原始數(shù)據(jù)，反射、透射輻射和輻照度波譜曲線。該儀器全部使用固定全息光柵和全線陣列光學(xué)探測(cè)器。這帶來(lái)了高靈敏度和高分辨率的特性，避免了因使用內(nèi)置光纖分光、窄狹縫和運(yùn)動(dòng)光柵或棱鏡帶來(lái)定標(biāo)失效可能性。該儀器能夠在100毫秒實(shí)現(xiàn)全光譜范圍數(shù)據(jù)采集，達(dá)到10次/秒的采集速率。專業(yè)的DARWinSP數(shù)據(jù)采集軟件更好的發(fā)揮了儀器性能并且方便數(shù)據(jù)后續(xù)處理。LABVIEW驅(qū)動(dòng)也可獲得。儀器具有性價(jià)比高，測(cè)量快速、準(zhǔn)確，操作簡(jiǎn)單，攜帶方便等特點(diǎn)，配有功能強(qiáng)大的軟件包，除了反射率和透過(guò)率測(cè)量，還可用做輻射度學(xué)，光度學(xué)和CIE色度學(xué)測(cè)量。
 

　　ASD地物光譜儀是一種常用的光譜儀類型，用戶在操作地物光譜儀時(shí)需要掌握一定的注意事項(xiàng)，可以更好的使用地物光譜儀。
 

　　1、ASD地物光譜儀實(shí)用工作曲線的確定
 

　　根據(jù)工廠冶煉情況，合金元素的含量范圍不同，確保地物光譜儀分析精密度，須采用不同鋼種標(biāo)鋼分別制作工作曲線。做工作曲線的標(biāo)鋼數(shù)量應(yīng)該滿足分析合金的需要。
 

　　由于分析試樣是從爐中快速取樣，與標(biāo)準(zhǔn)樣品的組織結(jié)構(gòu)、冶金履歷不一致，為了消除可能產(chǎn)生的偏高或偏低的系統(tǒng)誤差可采用控制試樣法。一般組織結(jié)構(gòu)的不同不會(huì)使工作曲線斜率改變，大體上只有平行移動(dòng)。因此用和分析試樣的組織結(jié)構(gòu)和冶金履歷一致的控制試樣來(lái)校正曲線的上下平移，能減少系統(tǒng)誤差。
 

　　2、選好控制試樣
 

　　光譜分析大都采用控制試樣法，這就會(huì)遇到有關(guān)控制標(biāo)鋼來(lái)源、化學(xué)成分的確定及使用等一系列問(wèn)題。對(duì)一些新開(kāi)展光譜分析工作的單位尤需注意。
 

　　3、分析試樣操作
 

　　分析試樣經(jīng)切割以后、要磨去表面氧化層，用研磨機(jī)磨樣時(shí)，試樣和標(biāo)鋼要同時(shí)操作，要力求操作一致，用力過(guò)大則易使表面氧化。磨紋要求一致，不應(yīng)有交叉紋。試樣磨后不宜放置過(guò)長(zhǎng)，否則造成試料表面氧化，影響地物光譜儀分析結(jié)果。一般可采用A12O3中軟，粒度為360的砂輪片磨樣，此外也可用砂紙或砂輪磨樣。